
在射频、微波及高速数字系统中,信号发生器输出的信号质量直接决定整个系统的测试准确性。信号反射不仅会改变信号波形,还可能引发以下问题:
射频通信测试:在天线校准或射频前端测试中,若未正确匹配50Ω系统,反射功率可能高达30%以上,严重影响测试可信度。
高速数字接口测试:如DDR4、PCIe等总线协议测试中,上升时间短(<100ps),反射极易引起数据误判。
从信号发生器输出端口到被测器件(DUT)输入端,所有组件(电缆、连接器、PCB走线)应统一采用标准阻抗(如50Ω),并进行阻抗仿真验证。
部分高端信号发生器(如Keysight、Rohde & Schwarz系列)提供“反射补偿”功能,通过内部算法动态调整输出信号,抵消已知路径反射。
在测试系统中加入定向耦合器,实时监测回波损耗(Return Loss),帮助识别反射源并进行调整。
利用SPICE或IBIS模型进行信号完整性仿真,提前预测反射位置与强度,指导硬件设计。
定期检查电缆老化、连接器松动、端子氧化等问题,确保接口始终处于良好状态。
信号反射虽小,却可能引发系统级故障。信号发生器用户必须从设计、选型、布线到维护全流程关注阻抗匹配与信号完整性。只有全面理解并实施防反射措施,才能真正发挥信号发生器在精密测试中的价值。
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